2020年第四屆國際測試研討會 (亞洲)

發布日期

​2020/09/23

活動日期:109年9月23日 至 109年9月25日

承辦單位:國立成功大學電機系
活動地點:台北南港展覽館

​參與人數:200人

成果紀要

1. 讓國內產業人士可直接就地收集到全球最新的半導體封裝測試技術。

2. 讓國內研究人員,包括教師與學生能有更多的國際交流經驗。

3. 提供國內外研究人員發表高品質技術論文的場所。

4. 提供產學業人士了解最新技術設計、獲取半導體產業科技趨勢,以及建立商業網絡的機會。

5. 因COVID-19疫情影響,國外報名人員透過遠端視訊方式參與會議,國內報名人員則出席會議        促進世界各區學界與業界此方面之人才在台灣進行交流,增進競爭力。

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