超大型積體電路測試研討會 (VLSI Test Technology Workshop)

發布日期

​2020/07/27

活動日期：109 年 7 月 27 日至 7月 29 日，共 3 日

主辦單位：台灣積體電路設計學會(TICD)
承辦單位：國立中山大學
活動地點：高雄翰品酒店

​參與人數：51人

​成果紀要

1.舉辦此研討會之目的為整合國內具有超大型積體電路測試技術相關專長之學者專家，透過一系列　　　　　　　   相關之專題演講、座談及學術論文發表報告等活動，共同針對電子系統之前瞻關鍵議題交流研究　　　　　　　　　　　   成果與意見討論。

2.今年度將以AI, AIOT相關之可測試性、可靠度與運算安全性最佳化為研討會主題，讓參與的師生     們皆能了解相關議題與解決之道，並培養學生研究意識。

3. VTTW是目前國內唯一一個以國際型研討會為標準，全程以英語(文)進行的測試專門會議。

4.希望藉此策略性地達到以下成

    (1)提升國內測試領域教授與研究生發表於國際會議論文（如ITC、VTS、DATE）之產量與質量

    (2)使學術界的教學研究更契合實務發展需求。

    (3)培育AI, AIOT相關之可測試性、可靠度與運算安全性提升之下一代人才。

5.今年的VTTW有以下成果。

    (1)促進國內測試領域學者之交流及意見討論。

    (2)持續提升國內測試領域教授與研究生發表於國際會議論文（如ITC、VTS、DATE）的企圖心　　　　　　        及產量。

    (3)提升測試領域之教學品質與資源。

    (4)探討因應未來AI, AIOT相關之可測試性、可靠度與運算安全性變化的對策。